AEC-Q100车规芯片验证G3：CA - Constant Acceleration 恒加
时间:2024-03-18 19:20来源:大熊的知识分享 作者:ictest8_edit 点击:
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AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对G组的第3项CA - Constant Acceleration恒加速度项目进行介绍。
AEC Q100 表格2中G组内容
CA - Constant Acceleration 恒加速度
我们先看一下表格中内容的含义。
表格中信息介绍和解读
表格中的信息给出，CA的分类是G3，Notes中包含了H D G，也就是说要求密封器件、破坏性测试、承认通用数据。
需求的样品数量是15pcs/Lot，来自1个批次。
接受标准是0失效；
参考文件是MIL-STD-883 Method2001
（编者注：MIL-STD-883是一个很复杂的标准文件，我参考的K版本多大765页，其中Method2001代表其中的子文件编号。原文件对自身的介绍如下：
附加需求：
仅Y1平面，30k g-force为＜40只引脚的封装，20k g-force为40引脚或以上的器件。
我们来看一下MIL-STD-883 Method2001这个文件。
MIL-STD-883 Method2001 CONSTANT ACCELERATION
1 目的
该测试用于确定恒定加速度对微电子器件的影响。这是一种加速试验，旨在指出在冲击和振动试验中不一定检测到的结构和机械缺陷类型。它可以用作高应力测试，以确定封装、内部金属化和引线系统、Die或衬底附件以及微电子器件的其他元素的机械能力极限。通过建立适当的应力水平，它也可以作为一种在线的100%筛选来检测和消除任何结构元素中低于额定机械强度的器件。
2 仪器
恒定加速度试验应在能够在规定时间内施加规定加速度的装置上进行。
3 流程
器件应被其外壳或正常的安装夹具所约束，并固定引脚或连接线。
除非另有规定，在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2的每个方向上，应对器件施加指定值的恒定加速度，至少持续1分钟(见注释1)。对于内部元件安装时主座平面垂直于Y轴的器件，Y1方向应定义为元件可以于从其安装上移除的方向。除非另有规定，应适用试验条件E。注:“压力水平”是绝对的最小值，没有可以降低的公差范围。自旋半径应从转子的中心到元件附件的第一个点。见图2001-1。
注1:双腔器件可能需要多次旋转，器件方向反转以适当地施加应力。
（编者注：AEC Q100中，要求是仅Y1平面，30k g-force为＜40只引脚的封装，20k g-force为40引脚或以上的器件。也就是根据引脚数量不同，选择D和E两个标准即可。特别注意Y1方向是零件安装的方向。）
4 总结
下列细节应在适用的接受文件中规定:
a.除测试条件E外，施加应力的加速度数值，单位为g(见3)。
b.应力后进行电性能测量的结果。
c.任何持续时间的变化或方向的限制原因(例如，仅Y1方向)(见3)。
d.实验方向的顺序，如果不是指定的(见3)。
图2001-1 旋转中心示意
其中：
g = 实验产品的加速度
ω = 每分钟转数
r = 半径（英尺单位）（从转盘中心点到附加元件的第一个点）
本文对AEC-Q100 G组的第3项内容CA - Constant Acceleration 恒加速度项目进行了介绍和解读，希望对大家有所帮助。
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